杂散光是光谱仪的一个要害参数，能够界说为抵达探测器并触发信号的一切不需要的波长的辐射。

  进入光谱仪的多色辐射在抵达探测器之前要通过多个光学元件。由于组成光谱仪的一切元件都不抱负，抵达探测器并勾勒出作业光谱规模的辐射可能会遭到杂散光的污染。

  杂散光可能是光谱仪整个光谱规模内的问题，可是，当咱们挨近紫外线 nm）时，杂散光会变得很激烈。运用紫外/可见光谱时，杂散光会在丈量的吸光度值中引进差错。

  由于杂散光的添加，吸光度读数开端下降，并导致比尔-朗伯规律的负差错。杂散光可能是由环境光散射、高强度光源、不完美光学元件（镜子和衍射光栅的质量）的散射光或光谱仪非光学元件的反射引起的。

  杂散光可能是由环境光散射、高强度光源、不抱负光学元件（镜子和衍射光栅的质量）的散射光或光谱仪非光学元件的反射引起的。

  反射面的不规则性是光学元件中常见的缺点类型之一。这些元件的出产的悉数进程对光谱仪中发生低杂散光水平有很大影响。全息光栅发生的杂散光比刻划光栅少得多，由于出产这些类型的光栅的工艺不受机械不规则性的影响。

  为了大幅度削减杂散光，Sarspec 专家一起优化了光谱仪的光学和机械设计。运用对称的 Czerny-Turner 装备和光学以及非光学元件，能够在 Sarspec 光谱仪的整个动态规模内将杂散光水平降低到 0.1% 以下。

  杂散光是光谱仪的一个要害参数，能够界说为抵达探测器并触发信号的一切不需要的波长的辐射。

  进入光谱仪的多色辐射在抵达探测器之前要通过多个光学元件。由于组成光谱仪的一切元件都不抱负，抵达探测器并勾勒出作业光谱规模的辐射可能会遭到杂散光的污染。

  杂散光可能是光谱仪整个光谱规模内的问题，可是，当咱们挨近紫外线 nm）时，杂散光会变得很激烈。运用紫外/可见光谱时，杂散光会在丈量的吸光度值中引进差错。

  由于杂散光的添加，吸光度读数开端下降，并导致比尔-朗伯规律的负差错。杂散光可能是由环境光散射、高强度光源、不完美光学元件（镜子和衍射光栅的质量）的散射光或光谱仪非光学元件的反射引起的。

  杂散光可能是由环境光散射、高强度光源、不抱负光学元件（镜子和衍射光栅的质量）的散射光或光谱仪非光学元件的反射引起的。

  反射面的不规则性是光学元件中常见的缺点类型之一。这些元件的出产的悉数进程对光谱仪中发生低杂散光水平有很大影响。全息光栅发生的杂散光比刻划光栅少得多，由于出产这些类型的光栅的工艺不受机械不规则性的影响。

  为了大幅度削减杂散光，Sarspec 专家一起优化了光谱仪的光学和机械设计。运用对称的 Czerny-Turner 装备和光学以及非光学元件，能够在 Sarspec 光谱仪的整个动态规模内将杂散光水平降低到 0.1% 以下。