在科技快速的提升的今天，半导体行业是推动全球经济与社会进步的核心力量。从智能手机到超级计算机，从智能家居到无人驾驶汽车，不能离开半导体技术，它正全方位重塑我们的生活与工作。

  在半导体材料的研发与生产的全部过程中，粒度和粒形是决定材料性能的重要的条件之一。

  以氮化硅陶瓷粉体为例，其粒度分布与形状会直接影响制成的陶瓷基板的致密性、导热性、机械强度，以及基板与芯片的结合性能。

  因此，精确的粒度和粒形分析对于控制半导体材料的质量、优化生产的基本工艺、提升产品性能至关重要。

  德国新帕泰克公司的激光粒度仪HELOS为半导体材料的粒度分析带来了全新的解决方案。以下来了解下该公司的基础信息及产品优势。

  德国新帕泰克是集研发、制造、销售、技术服务和支持为一体的粒度分析仪制造商，为全世界的客户提供实验室及工业在线的一系列粒度粒形分析仪。

  新帕泰克致力于基于激光衍射、动态图像分析、超声衰减原理及光子交叉相关光谱法(PCCS)的粒度测试技术的开创，并在具有挑战性的应用中拥有理想的性能优势，帮助解决颗粒体系的研发、生产与质量控制难题。

  如今，德国新帕泰克的粒度仪已经大范围的应用于如干粉、造粒、纤维、悬浮液、乳浊液、气溶胶、喷雾和吸入剂等的粒度测试，测试范围从0.5 nm到34.000 m。模块化的设计，能够准确的通过实验室需要组合应用，同时也可整合到在线系统。此外，使用新帕泰克的仪器，在更短的测试时间内获得具有更高准确度、测试重复性及仪器可比性的粒度测试结果!

  -专利干法分散技术：配备全自动干法分散系统RODOS，采用压缩气流高效分散超细氮化硅材料粉体，干样干测，无需使用溶剂，避免颗粒团聚。

  -高精度与重复性：最高可达0.04微米分辨率，结合稳定的干法分散技术，确保每次测试结果的重复性和可靠性。

  德国新帕泰克的另一款重要产品 — 动态图像分析仪QICPIC，为粒度与粒形的双维度分析提供了更全面的解决方案。

  -动态图像法测试：结合高效分散系统，利用高速摄像头拍摄运动中的分散颗粒流，通过专业分析软件对每个颗粒的粒度和粒形一起进行精确测量和分析。

  -多样化粒度、粒形评估模式：可以从多重维度精确描述半导体材料颗粒的大小和形状特征。

  -颗粒图库功能：可使用特定过滤条件查询超规颗粒(如EQPC径 100μm的颗粒)，追溯其产生的原因，及时优化工艺参数。

  -直观数据呈现：提供粒度、粒形分布图、散点图、表格及详细的图文报告;支持导出颗粒图像、粒径和粒形信息，以及测试过程记录的颗粒流录像。

  -与其他方法具有可比性：检测结果与传统筛分法、激光衍射法拥有非常良好的对比性，为公司可以提供了可靠的参考和验证手段。

  德国新帕泰克公司作为粒度和粒形分析领域的技术先驱，致力于为不一样的行业提供全面、精准、高效的粒度与粒形解决方案。

  除了上述的激光粒度仪HELOS和动态图像分析仪QICPIC外，新帕泰克还拥有丰富的产品线，包括纳米粒度仪、在线激光粒度仪等，能够很好的满足从纳米到毫米级粒度范围的测量需求，覆盖半导体材料研发、生产、质量控制等各个环节。

  -高浓度纳米粒度仪：采用动态光散射技术结合背向散射交叉相关光谱技术，精确测量纳米级高浓度样品的粒度及分布，助力纳米半导体材料的研发。

  -在线激光粒度仪：实现对生产的全部过程中粉体粒度的实时监测和控制，确定保证产品质量的稳定性和一致性。

  此外，新帕泰克还提供定制化的解决方案，根据公司的具体需求配置更适合的粒度与粒形分析系统，助力企业提升产品质量、优化生产的基本工艺、降低生产所带来的成本，推动半导体材料产业的高水平质量的发展。